晶體結(jié)構(gòu)與缺陷的電子顯微分析實驗案例

　　本書涵蓋作者自20世紀80年代末師從郭可信先生起至近年帶領研究團隊在有關(guān)電子衍射方面所積累的主要實驗案例，旨在以“案例”的形式梳理電子顯微學及晶體學的基礎知識，展示如何通過對材料基礎科學問題的再認識從而對經(jīng)典問題產(chǎn)生新理解，分享發(fā)現(xiàn)的樂趣，傳授 30 余載的學術(shù)經(jīng)驗。本書主體（第2～6章）按晶體的對稱性從低到高依次展開，包括單斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系，涉及周期性晶體14種布拉維點陣中的13種點陣類別以及部分準晶體，共40余種物相。第1章和第7章是科學研究中相關(guān)歷史事件的精彩片段，不但能引起讀者對本領域歷代先驅(qū)者的無限敬仰，也能激發(fā)年輕學者投身于基礎科學研究、探索自然奧秘的熱情和決心。本書適合作為電子顯微學以及材料相關(guān)專業(yè)研究生的教學用書，也可供材料科學與過程領域的科研工作者和從業(yè)者閱讀和參考。

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