材料現(xiàn)代分析與測試技術（第2版）

第1章 X射線衍射分析
1．1 X射線的性質及X射線的產生
1．1．1 X射線的性質
1．1．2 X射線的產生
1．1．3 X射線譜
1．1．4 X射線的吸收和單色X射線的獲得
1．2 X射線與物質的相互作用
1．2．1 散射效應
1．2．2 光電效應
1．3 X射線衍射的基本理論
1．3．1 倒易點陣
1．3．2 X射線衍射幾何條件
1．3．3 X射線衍射線束的強度
1．4 X射線衍射分析方法
1．4．1 多晶體材料衍射分析研究方法
1．4．2 單晶體材料衍射分析研究方法
1．5 衍射數據的基本處理
1．5．1 人工數據處理
1．5．2 計算機數據處理
1．6 X射線衍射的分析與應用
1．6．1 X射線衍射分析的應用
1．6．2 人工手動分析與應用
1．6．3 計算機程序分析與應用
參考文獻
第2章 電子顯微分析
2．1 電子光學基礎
2．1．1 顯微鏡的分辨率及光學顯微鏡的局限性
2．1．2 電子的波性及波長
2．1．3 電子在電磁場中的運動與電磁透鏡
2．1．4 電磁透鏡的像差
2．1．5 電磁透鏡的理論分辨率
2．1．6 電磁透鏡的場深和焦深
2．2 電子與固體物質的相互作用
2．2．1 電子與固體物質作用的物理過程
2．2．2 電子與固體物質相互作用產生的信號
2．2．3 相互作用體積與信號產生的深度和廣度
2．3 透射電子顯微鏡
2．3．1 透射電子顯微鏡的發(fā)展
2．3．2 透射電子顯微鏡的基本結構
2．3．3 透射電子顯微鏡的主要性能指標
2．3．4 透射電子顯微鏡的樣品制備
2．4 電子衍射
2．4．1 電子衍射的特點
2．4．2 電子衍射基本公式
2．4．3 單晶電子衍射譜
2．4．4 多晶電子衍射譜
2．4．5 透射電子顯微鏡中的電子衍射方法
2．4．6 電子衍射譜的標定
2．4．7 電子衍射物相分析的特點
2．5 透射電子顯微像及其襯度
2．5．1 質厚襯度與復型膜電子像
2．5．2 薄晶體電子顯微像及其襯度
2．6 掃描電子顯微鏡
2．6．1 掃描電子顯微鏡的發(fā)展
2．6．2 掃描電鏡的工作原理及特點
2．6．3 掃描電鏡的基本結構
2．6．4 掃描電鏡的主要性能指標
2．6．5 掃描電鏡的場深
2．6．6 掃描電鏡的樣品制備
2．7 掃描電鏡像及其襯度
2．7．1 掃描電鏡像的襯度
2．7．2 二次電子像
2．7．3 背散射電子像
2．7．4 吸收電子像
2．8 電子探針X射線顯微分析
2．8．1 電子探針的結構及工作原理
2．8．2 波譜儀
2．8．3 能譜儀
2．8．4 波譜儀和能譜儀的比較
2．8．5 電子探針分析方法及其應用
2．9 掃描探針顯微分析
2．9．1 掃描隧道顯微鏡及其應用
……
第3章 熱分析
第4章 振動光譜分析
第5章 電子能譜分析
第6章 發(fā)光材料光譜分析
第7章 核磁共振
第8章 分析測試方法知識體系再整合
參考文獻