近代物理實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)

定　價(jià)：￥46.00

作　者：	何新編
出版社：	冶金工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787502489007	出版時(shí)間：	2021-10-01	包裝：	平裝-膠訂
開(kāi)本：	16開(kāi)	頁(yè)數(shù)：		字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)是作者結(jié)合多年的課程教學(xué)實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)以及實(shí)驗(yàn)設(shè)備現(xiàn)狀編寫(xiě)而成的。內(nèi)容涉及量子物理、微波物理、光電探測(cè)、半導(dǎo)體科學(xué)與技術(shù)、信息光學(xué)、薄膜光學(xué)等領(lǐng)域的共18個(gè)實(shí)驗(yàn)。書(shū)中簡(jiǎn)要介紹了實(shí)驗(yàn)背景、原理和方法，著重詳實(shí)介紹了實(shí)驗(yàn)裝置原理、結(jié)構(gòu)、特點(diǎn)和操作規(guī)范，以及正確進(jìn)行實(shí)驗(yàn)的規(guī)范操作流程。在突出基本技能訓(xùn)練的同時(shí)，每個(gè)實(shí)驗(yàn)操作指導(dǎo)都特意介紹了一些拓展性的內(nèi)容，激發(fā)學(xué)生自主探索的興趣。本書(shū)適合作為高等院校近代物理實(shí)驗(yàn)課程的教材配套書(shū)和教學(xué)參考書(shū)，可供理工科專業(yè)本科生和研究生參考，也可作為有關(guān)學(xué)科實(shí)驗(yàn)研究人員和工程技術(shù)人員的參考書(shū)。

作者簡(jiǎn)介

暫缺《近代物理實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)》作者簡(jiǎn)介

圖書(shū)目錄

1 量子理論基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)
1.1 黑體輻射實(shí)驗(yàn)
1.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.1.2 簡(jiǎn)要原理
1.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.2 單光子計(jì)數(shù)實(shí)驗(yàn)
1.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.2.2 簡(jiǎn)要原理
1.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.3 弗蘭克-赫茲實(shí)驗(yàn)
1.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.3.2 簡(jiǎn)要原理
1.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.4 塞曼效應(yīng)實(shí)驗(yàn)
1.4.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.4.2 簡(jiǎn)要原理
1.4.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.4.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.4.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
1.4.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.5 電子自旋共振實(shí)驗(yàn)
1.5.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
1.5.2 簡(jiǎn)要原理
1.5.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.5.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.5.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.5.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
1.6 光泵磁共振實(shí)驗(yàn)
1.6.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
1.6.2 簡(jiǎn)要原理
1.6.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
1.6.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
1.6.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
1.6.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2 微波物理與光電探測(cè)實(shí)驗(yàn)
2.1 微波參數(shù)測(cè)量實(shí)驗(yàn)
2.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
2.1.2 簡(jiǎn)要原理
2.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2.2 微波布拉格衍射實(shí)驗(yàn)
2.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
2.2.2 簡(jiǎn)要原理
2.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
2.3 光電二極管光譜響應(yīng)度測(cè)量實(shí)驗(yàn)
2.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
2.3.2 簡(jiǎn)要原理
2.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
2.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
2.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
2.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3 半導(dǎo)體物理實(shí)驗(yàn)
3.1 X射線衍射實(shí)驗(yàn)
3.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.1.2 簡(jiǎn)要原理
3.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.1.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3.2 半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量實(shí)驗(yàn)
3.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.2.2 簡(jiǎn)要原理
3.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.2.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
3.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
3.3 少子壽命測(cè)量實(shí)驗(yàn)
3.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
3.3.2 簡(jiǎn)要原理
3.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
3.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
3.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
3.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4 信息光學(xué)實(shí)驗(yàn)
4.1 全息光柵制作實(shí)驗(yàn)
4.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
4.1.2 簡(jiǎn)要原理
4.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4.2 阿貝成像原理和空間濾波實(shí)驗(yàn)
4.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
4.2.2 簡(jiǎn)要原理
4.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
4.3 傅里葉變換全息圖實(shí)驗(yàn)
4.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
4.3.2 簡(jiǎn)要原理
4.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
4.3.4 .實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
4.3.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
4.3.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5 薄膜光學(xué)實(shí)驗(yàn)
5.1 真空鍍膜實(shí)驗(yàn)
5.1.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?nèi)容與要求
5.1.2 簡(jiǎn)要原理
5.1.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
5.1.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.1.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.1.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5.2 橢偏法測(cè)量折射率和厚度實(shí)驗(yàn)
5.2.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
5.2.2 簡(jiǎn)要原理
5.2.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備介紹
5.2.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.2.5 數(shù)據(jù)記錄、處理與誤差分析
5.2.6 實(shí)驗(yàn)操作拓展
5.3 分光光度法測(cè)量透射率和反射率實(shí)驗(yàn)
5.3.1 實(shí)驗(yàn)?zāi)康?、?nèi)容與要求
5.3.2 實(shí)驗(yàn)原理與方法
5.3.3 實(shí)驗(yàn)設(shè)備
5.3.4 實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程及主要現(xiàn)象
5.3.5 數(shù)據(jù)記錄與處理
5.3.6 實(shí)驗(yàn)拓展
附錄A 光電探測(cè)器的響應(yīng)時(shí)間
A.1 脈沖響應(yīng)特性
A.2 幅頻特性
附錄B ZZS-700型真空鍍膜機(jī)及操作規(guī)程
附錄C TPY-2型橢圓偏振測(cè)厚儀及實(shí)驗(yàn)操作規(guī)程
附錄D TJ270-30（30A）型紅外分光光度計(jì)和WFZ-26A型紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)主要性能指標(biāo)
D.1 TJ270-30（30A）型紅外分光光度計(jì)主要性能指