集成電路驗(yàn)證

定　價(jià)：￥98.00

作　者：	沈海華，張鋒，樂(lè)翔
出版社：	科學(xué)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	暫缺

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ISBN：	9787030553706	出版時(shí)間：	2018-11-01	包裝：
開(kāi)本：	32開(kāi)	頁(yè)數(shù)：	236	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)從集成電路驗(yàn)證領(lǐng)域存在的問(wèn)題出發(fā)，詳細(xì)介紹數(shù)字電路和模擬電路驗(yàn)證方法，主要包括設(shè)計(jì)驗(yàn)證語(yǔ)言基礎(chǔ)、模擬仿真驗(yàn)證、覆蓋率檢驗(yàn)方法、電路的形式驗(yàn)證、物理驗(yàn)證、SPICE仿真、低功耗設(shè)計(jì)和驗(yàn)證方法、低功耗驗(yàn)證技術(shù)實(shí)例、硅后驗(yàn)證等方面。全書(shū)緊密圍繞工業(yè)界集成電路驗(yàn)證流程進(jìn)行闡述，盡可能覆蓋集成電路驗(yàn)證領(lǐng)域的現(xiàn)有技術(shù)內(nèi)容，同時(shí)對(duì)低功耗驗(yàn)證、硅后驗(yàn)證等驗(yàn)證領(lǐng)域新的趨勢(shì)和研究課題進(jìn)行分析。