回轉(zhuǎn)體的結構光測量原理

第1章 緒論
1．1 回轉(zhuǎn)體廓形測量技術
1．2 結構光三維測量技術
1．2．1 點結構光法
1．2．2 線結構光法
1．2．3 面結構光法
1．3 結構光測量技術發(fā)展趨勢
1．4 回轉(zhuǎn)體廓形測量發(fā)展趨勢
參考文獻
第2章 內(nèi)孔幾何參數(shù)的點結構光測量原理
2．1 點結構光的內(nèi)孔輪廓測量原理
2．1．1 激光傳感器
2．1．2 角度傳感器
2．1．3 測量原理
2．1．4 測量頭裝置固有參數(shù)標定原理
2．2 數(shù)據(jù)采集與預處理
2．2．1 數(shù)據(jù)采集方法
2．2．2 數(shù)據(jù)預處理
2．3 輪廓分段方法
2．3．1 概述
2．3．2 曲率法
2．3．3 弦到曲線的面積和法
2．4 內(nèi)孔幾何參數(shù)計算方法
2．4．1 徑截面參數(shù)計算原理
2．4．2 軸截面參數(shù)計算原理
2．4．3 螺旋線參數(shù)計算原理
2．4．4 容積計算原理
參考文獻
第3章 內(nèi)孔幾何參數(shù)的線結構光測量原理
3．1 一般線結構光的幾何參數(shù)測量模型
3．1．1 理想測量模型
3．1．2 相機鏡頭畸變模型
3．1．3 相機參數(shù)標定方法
3．2 內(nèi)孔三維幾何參數(shù)的環(huán)形線結構光測量原理
3．2．1 環(huán)形線結構光形成原理
3．2．2 簡單同軸環(huán)形線結構光測量頭裝置工作原理
3．2．3 帶錐鏡同軸環(huán)形線結構光測量頭裝置工作原理
3．2．4 同軸環(huán)形線結構光測量頭裝置固有參數(shù)標定原理
3．3 內(nèi)孔三維幾何參數(shù)的弧形線結構光測量原理
3．4 線結構光圖像處理
3．4．1 線結構光圖像的特征
3．4．2 線結構光圖像的濾波
3．4．3 感興趣區(qū)域的設定
3．4．4 線結構光光條中心提取原理
參考文獻
第4章 內(nèi)孔疵病特征的面結構光測量原理
4．1 內(nèi)孔表面特征的面結構光測量原理
4．1．1 內(nèi)孔表面特征的面結構光測量裝置與工作原理
4．1．2 面結構光測量圖像的展開變換
4．1．3 展開圖像的拼接
4．2 孔內(nèi)表面疵病參數(shù)計算原理
4．2．1 圖像分割的基本原理
4．2．2 基于區(qū)域分割一合并的疵病提取原理
4．2．3 疵病表征及特征計算
參考文獻
第5章 內(nèi)孔疵病特征的線結構光測量技術
5．1 孔腔內(nèi)輪廓三維測量數(shù)據(jù)圖像化原理
5．2 圖像區(qū)域分割及陽線／陰線區(qū)域識別
5．2．1 基于灰度閾值的并行區(qū)域分割算法
5．2．2 模板法陽線／陰線區(qū)域識別
5．3 基于ITD圖像的火炮身管內(nèi)膛疵病檢測方法
5．3．1 陽線斷脫、蝕坑、裂紋和燒蝕網(wǎng)疵病檢測
5．3．2 陰線掛銅和銹蝕疵病檢測
5．3．3 其他疵病檢測
5．3．4 疵病位置與幾何參數(shù)計算
5．3．5 疵病檢測精度評價
5．4 復合疵病檢測法
參考文獻
第6章 內(nèi)孔幾何參數(shù)和疵病特征的結構光測量系統(tǒng)
6．1 測量系統(tǒng)總體構成
6．1．1 點結構光測量系統(tǒng)
6．1．2 線結構光測量系統(tǒng)
6．1．3 面結構光測量系統(tǒng)
6．2 誤差分析
6．2．1 機械系統(tǒng)誤差分析
6．2．2 光學系統(tǒng)誤差分析
6．2．3 被測表面特性的影響
6．2．4 其他影響因素
6．3 減小誤差的措施
6．3．1 減小機械系統(tǒng)誤差的措施
6．3．2 減小光學系統(tǒng)誤差的措施
6．3．3 減小圖像處理誤差的措施
6．4 測量精度驗證
6．4．1 孔徑測量精度驗證
6．4．2 旋轉(zhuǎn)角度驗證
參考文獻
第7章 軸類外輪廓幾何參數(shù)的線結構光測量技術
7．1 光幕式線結構光測量原理
7．2 幾何參數(shù)計算方法
7．3 測量系統(tǒng)
參考文獻