毫米波與太赫茲天線測量技術(shù)

第1章 緒論
1．1 毫米波與太赫茲技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用
1．2 天線遠(yuǎn)場及近場測量技術(shù)
1．3 緊縮場天線測量方法
1．4 毫米波及太赫茲天線測量
參考文獻(xiàn)
第2章 基本理論
2．1 坐標(biāo)系統(tǒng)
2．1．1 矢量運(yùn)算
2．1．2 坐標(biāo)系
2．2 天線測量的基本參數(shù)
2．2．1 輻射功率和輻射電阻
2．2．2 天線的效率
2．2．3 方向函數(shù)
2．2．4 方向圖
2．2．5 方向圖參數(shù)
2．2．6 方向系數(shù)
2．2．7 增益系數(shù)
2．2．8 天線極化
2．3 天線測量方式
2．3．1 天線場區(qū)
2．3．2 天線遠(yuǎn)場測量方式
2．3．3 天線近場測量方式
2．4 平面掃描近場測量基本理論
2．4．1 近場測量
2．4．2 平面波的展開
參考文獻(xiàn)
第3章 緊縮場天線測量方法
3．1 緊縮場天線測量方法的理論
3．1．1 緊縮場的發(fā)展與現(xiàn)狀
3．1．2 緊縮場指標(biāo)
3．1．3 使用反射鏡邊緣處理方法減小衍射效應(yīng)
3．1．4 緊縮場測量方法
3．2 單反射鏡緊縮場天線測量系統(tǒng)
3．3 雙反射鏡緊縮場天線測量系統(tǒng)
3．3．1 卡塞格林雙反射鏡CATR
3．3．2 雙拋物柱面反射鏡CATR
3．3．3 雙賦形反射鏡CATR
3．4 單拋物柱面反射鏡CATR
3．5 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第4章 三反射鏡緊縮場測量系統(tǒng)設(shè)計原理
4．1 三反射鏡天線測量系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)
4．2 三反射鏡天線測量系統(tǒng)的設(shè)計方法
4．2．1 幾何光學(xué)射線跟蹤法
4．2．2 三反射鏡CATR設(shè)計步驟
4．3 小結(jié)
參考文獻(xiàn)
第5章 三反射鏡緊縮場測量系統(tǒng)設(shè)計實例
5．1 三反射鏡緊縮場測量系統(tǒng)設(shè)計實例
5．1．1 卡塞格林-格雷戈里反射形式的緊縮場系統(tǒng)
5．1．2 雙格雷戈里反射形式的緊縮場系統(tǒng)
5．2 三反射鏡緊縮場測量系統(tǒng)的參數(shù)優(yōu)化
5．2．1 自由量設(shè)計
5．3 雙格雷戈里三反射鏡緊縮場天線測量系統(tǒng)的靈敏度分析
5．3．1 卡塞格林格雷戈里緊縮場天線測量系統(tǒng)的靈敏度分析
5．3．2 雙格雷戈里緊縮場天線測量系統(tǒng)的靈敏度分析
第6章 微波暗室與射頻系統(tǒng)
6．1 遠(yuǎn)場暗室
6．2 近場暗室
6．3 吸波材料
6．4 暗室性能指標(biāo)參數(shù)及其物理含義
6．5 暗室設(shè)計實例
6．5．1 設(shè)計原則
6．5．2 執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)
6．5．3 材料選擇和布置方案
6．5．4 吸波材料的安裝方案
6．5．5 四側(cè)墻面及頂面
6．5．6 地面
6．5．7 特殊部位吸波材料的安裝
6．5．8 通風(fēng)波導(dǎo)窗
6．5．9 接地
6．6 毫米波測試儀器
6．6．1 目前主流毫米波測試方案介紹
6．6．2 緊縮場天線測試系統(tǒng)工作原理
6．7 暗室整體
第7章 三反射緊縮場天線測量系統(tǒng)的性能評估
7．1 饋源測試
7．2 鏡面的加工與測試
7．3 靜區(qū)的測量
7．4 對比測量
7．5 總結(jié)
附錄一 幾何光學(xué)法概論
參考文獻(xiàn)
附錄二 物理光學(xué)法概論