退化數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析

第一章 緒論
1.1 問題產(chǎn)生的背景以及理論與應(yīng)用的意義
1.2 退化型失效的有關(guān)問題
1.3 退化軌道與退化數(shù)據(jù)
1.4 退化中的波動
第二章 退化數(shù)據(jù)統(tǒng)計模型及其參數(shù)估計
2.1 退化軌道函數(shù)
2.2 退化數(shù)據(jù)統(tǒng)計模型
2.3 一般退化軌道中的參數(shù)估計
2.4 失效分布函數(shù)
2.4.1 FT （t）的解析解
2.4.2 FT（t)的數(shù)值積分解
2.4.3 FT（t)的蒙特卡羅解
2.4.4 FT（t)的Bootstrap置信區(qū)間
2.4.5 近似的退化分析
第三章 線性退化模型的參數(shù)估計
3.1 平衡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的隨機(jī)系數(shù)線性模型
3.2 非平衡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的混合系數(shù)線性模型
3.2.1 模型
3.2.2 參數(shù)向量a和b的估計
3.2.3 誤差方差cr2與協(xié)分差∑的估計
3.2.4 平衡數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)下的結(jié)果
3.3 參數(shù)估計的大樣本性質(zhì)
3.4 破壞性測量數(shù)據(jù)的處理
3.4.1 背景與模型
3.4.2 隨機(jī)截距模型中參數(shù)的LSE
3.4.3 隨機(jī)斜率模型中參數(shù)的LSE
第四章 連續(xù)測量退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析
4.1 失效分布的p分位數(shù)
4.1.1 退化量y（t)的戶分位數(shù)
4.1.2 失效分布的戶分位數(shù)
4.1.3 分位數(shù)的估計
4.2 失效分布矩的估計
4.2.1 尋求E（T)的表達(dá)式
4.2.2 用壽命的預(yù)測值估計各階矩
4.2.3 二階Taylor近似估計（△法）
4.2.4 矩的二次逼近估計
4.3 藥品的貨架壽命
4.4 變動失效水平的處理方法
4.4.1變動失效水平處理退化數(shù)據(jù)方法
4.4.2 金屬膜電阻值退化數(shù)據(jù)處理
4.4.3 晶體管參數(shù)退化數(shù)據(jù)處理
附表4.1 金屬膜電阻值退化數(shù)據(jù)
附表4.2 晶體管參數(shù)的退化數(shù)據(jù)
第五章 退化數(shù)據(jù)的變換及其有關(guān)推斷
5.1 模型及其變形
5.2 消除退化數(shù)據(jù)間相關(guān)性的線性變換
5.3 方差分量的估計
5.3.1 方差分量δ2e的估計
5.3.2 方差分量δ2的估計
5.3.3 隨機(jī)效應(yīng)的檢驗(yàn)
第六章 加速退化試驗(yàn)數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析
6.1 晶體管漏電流恒加退化試驗(yàn)
6.1.1 恒加退化試驗(yàn)的設(shè)計與實(shí)施
6.1.2 退化數(shù)據(jù)統(tǒng)計模型
6.1.3 參數(shù)估計與加速方程
6.2 絕緣材料的恒加退化試驗(yàn)
6.2.1 絕緣材料恒加退化試驗(yàn)的設(shè)計與實(shí)施
6.2.2 退化數(shù)據(jù)統(tǒng)計模型
6.2.3 參數(shù)估計與加速方程
6.3 浸潰漆的加速退化試驗(yàn)
6.3.1 恒加退化試驗(yàn)的設(shè)計與實(shí)施
6.3.2 恒加退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析
6.3.3 步加退化試驗(yàn)的設(shè)計與實(shí)施
6.3.4 步加退化數(shù)據(jù)的統(tǒng)計分析
附表6.1 場效應(yīng)晶體管漏電流Idss的退化數(shù)據(jù)
結(jié)束語
參考文獻(xiàn)