電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析進(jìn)樣技術(shù)

定　價(jià)：￥49.00

作　者：	汪正，邱德仁，張軍燁著
出版社：	上?？茖W(xué)技術(shù)出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	分析化學(xué) 化學(xué) 自然科學(xué)

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ISBN：	9787547814178	出版時(shí)間：	2012-10-01	包裝：	精裝
開本：	大32開	頁數(shù)：	273	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析進(jìn)樣技術(shù)》是介紹電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析（Inductively Coupled Plasma Atomic Emission Spectrometry，ICP-AES）的基本原理、儀器結(jié)構(gòu)和進(jìn)樣技術(shù)的專業(yè)基礎(chǔ)讀物。在簡單地介紹了光譜分析歷史、現(xiàn)代等離子體光譜分析技術(shù)和電感耦合等離子體光譜分析的應(yīng)用領(lǐng)域等之后，詳細(xì)地介紹了電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析儀器的結(jié)構(gòu)原理、分析性能和干擾消除。第二章至第八章討論了各種進(jìn)樣技術(shù)，具體包括溶液進(jìn)樣技術(shù)、氣體發(fā)生進(jìn)樣技術(shù)、電熱蒸發(fā)進(jìn)樣技術(shù)、激光剝蝕進(jìn)樣技術(shù)、懸浮液霧化進(jìn)樣技術(shù)、流動注射進(jìn)樣技術(shù)、固相萃取進(jìn)樣技術(shù)的分析原理、儀器結(jié)構(gòu)及應(yīng)用領(lǐng)域等?！峨姼旭詈系入x子體原子發(fā)射光譜分析進(jìn)樣技術(shù)》可供具有一定原子光譜學(xué)和材料科學(xué)、生物學(xué)及地質(zhì)、礦業(yè)、化工、建材、微電子和環(huán)境等專業(yè)知識的高等院校和科研院所的教師、科研人員和研究生參閱，也可供從事原子光譜分析應(yīng)用和各分析測試機(jī)構(gòu)的分析人員和管理人員參閱，尤其適合那些計(jì)劃到環(huán)境科學(xué)、材料化學(xué)、化學(xué)化工、冶金、地質(zhì)等各種領(lǐng)域中從事原子光譜分析的研究人員和分析人員閱讀和參考。

作者簡介

暫缺《電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析進(jìn)樣技術(shù)》作者簡介

圖書目錄

第1章概述
1.1 導(dǎo)言
    1.2 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜分析
    1.2.1 ICP炬的形成
    1.2.2 裝置
1.3 ICP的光源參數(shù)
1.4 工作參數(shù)的優(yōu)化與折衷
1.5 ICP-AES儀器的分析性能
1.6 光譜干擾及其校正
    1.6.1 光譜干擾
    1.6.2 光譜干擾的校正
參考文獻(xiàn)
第2章溶液進(jìn)樣技術(shù)
2.1 樣品制備技術(shù)
    2.1.1 試料采集
    2.1.2 無機(jī)固體試樣的溶解
    2.1.3 有機(jī)物固體試樣的分解
    2.1.4 液體試樣的稀釋處理
    2.1.5 微波消解試樣
    2.1.6 消解試劑
2.2 溶液霧化進(jìn)樣
    2.2.1 氣動霧化法
    2.2.2 超聲霧化法
    2.2.3 熱噴霧法
參考文獻(xiàn)
第3章氣體發(fā)生進(jìn)樣技術(shù)
3.1 氫化物發(fā)生法
    3.1.1 概述
    3.1.2 氫化物的釋放
    3.1.3 氫化物的傳輸
3.2 氫化物發(fā)生模式
    3.2.1 連續(xù)流動式
    3.2.2 流動注射式
    3.2.3 批量間歇式
3.3 氫化物原子化
    3.3.1 原子吸收光譜原子化器中氫化物的原子化
    3.3.2 等離子體中的氫化物的原子化
3.4 氫化物發(fā)生法的干擾
    3.4.1 干擾及其分類
    3.4.2 干擾機(jī)理
    3.4.3 干擾去除
3.5 氫化物發(fā)生法在各個(gè)氫化物元素測定中的應(yīng)用
    3.5.1 砷
    3.5.2 銻
    3.5.3 鉍
    3.5.4 鍺
    3.5.5 錫
    ……
第4章電熱蒸發(fā)進(jìn)樣技術(shù)
第5章激光剝蝕進(jìn)樣技術(shù)
第6章懸浮液霧化進(jìn)樣技術(shù)
第7章流動注射進(jìn)樣技術(shù)
第8章固相萃取進(jìn)樣技術(shù)
附錄 ICP-AES法分析線與檢出限