核輻射探測及核技術(shù)應(yīng)用實驗

定　價：￥48.00

作　者：	曹利國編
出版社：	原子能出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	科技原子能技術(shù)

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ISBN：	9787502250942	出版時間：	2010-12-01	包裝：	平裝
開本：	16開	頁數(shù)：	254	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　《核輻射探測及核技術(shù)應(yīng)用實驗》是一本基礎(chǔ)性、綜合性的高等學(xué)校實驗教材。涉及核輻射探測、核技術(shù)應(yīng)用、核安全防護和鈾礦資源勘查，以及射線與物質(zhì)相互作用、天然放射性分析、熱釋光測量、X射線熒光方法和中子活化等方面的基礎(chǔ)實驗。對實驗設(shè)備首次采用了“信息共享網(wǎng)絡(luò)”的特殊安排，在保證實驗正常進(jìn)行的前提下簡化了實驗設(shè)備、減少了輻射污染和相互干擾。教材中新設(shè)計了一些實驗，采取了一些新的實驗方法。為開拓學(xué)生的思路和提高學(xué)生的實際工作能力提供了必要的條件。適用于大學(xué)本科核儀器儀表、核技術(shù)應(yīng)用和鈾礦資源勘查以及相關(guān)專業(yè)的學(xué)生使用。

作者簡介

　　曹利國，1937年生于重慶，中共黨員。1958年北京地質(zhì)學(xué)院（現(xiàn)名中國地質(zhì)大學(xué)）研究生畢業(yè)。成都理工大學(xué)核技術(shù)應(yīng)用及核地球物理學(xué)教授。獲院、省、部級科技獎多項和國家科技進(jìn)步二等獎一項。政府特殊津貼獲得者。先后在長春地質(zhì)學(xué)院（現(xiàn)并入吉林大學(xué)）、成都地質(zhì)學(xué)院（現(xiàn)名成都理工大學(xué)）從事人工放射性物探方法及核技術(shù)應(yīng)用的教學(xué)、科研工作。在工作期間曾掇任實驗室主任、教研室主任、系副主任及系學(xué)術(shù)委員會副主任，并兼任原核工業(yè)部教材編審委員會委員及四川大學(xué)教育部核輻射開放實驗室學(xué)術(shù)委員會委員。1963年以來，共發(fā)表科研論文30余篇。主要著作有《X射線熒光探礦技術(shù)》、《核地球物理勘查方法》、《能量色散X射線熒光方法》等。

圖書目錄

前言
基礎(chǔ)篇
緒論
第一章數(shù)理統(tǒng)計概念
第二章測量數(shù)據(jù)的處理
第三章實驗室總體布置
第四章核輻射防護基本知識
上篇
實驗1 核輻射探測系統(tǒng)及測量儀表
實驗2 G-M計數(shù)管的信息傳送和放大
實驗3 放射性現(xiàn)象的統(tǒng)計特征
實驗4 a射線在空氣中的吸收
實驗5 Nal（ Tl）閃爍探測器的組成及其“坪”曲線的測定
實驗6 Nal（ Tl）閃爍譜儀測定γ射線譜及能量刻度
實驗7 γ輻射儀的標(biāo)定
實驗8 γ射線在物質(zhì)中的吸收
實驗9 鈾礦床（模型）的勘探
實驗10 正比計數(shù)器測定元素X射線譜
實驗11 康普頓一吳有訓(xùn)散射譜與散射角的關(guān)系
實驗12 等效密度測定（骨密度計）
實驗13 鍍層、涂層厚度的X射線熒光測量方法
下篇
實驗14 直流高壓獲取與性能測試
實驗15 線性脈沖放大電路的仿真
實驗16 平方反比定律的驗證
實驗17　CMOS單道脈沖幅度分析器
實驗18 釷射氣220 Rn半衰期及衰變常數(shù)的測定
實驗19 β射線在物質(zhì)中的吸收
實驗20 γ射線穿過物質(zhì)時儀器譜成分的變化
實驗21 散射料位測量
實驗22 γ射線反散射譜的影響因素
實驗23 半導(dǎo)體探測器γ譜儀
實驗24 熱釋光測量原理及最佳測試條件的選擇
實驗25 BF3中子計數(shù)器及中子場分布
實驗26 天然放射性方法測定礦石中的鈾含量
實驗27 正比計數(shù)器工作狀態(tài)的選擇
實驗28 能量色散X熒光分析技術(shù)--譜測量與分析
實驗29 Si（ Li）半導(dǎo)體探測器
實驗30 X射線管-Si-PIN X射線譜儀特性研究
實驗31 輕元素薄膜厚度測量
實驗32 吸收法料位測量
實驗33 γ散射法探測介質(zhì)內(nèi)部缺陷
實驗34 水中泥沙含量測定
實驗35 中子活化反應(yīng)及生成核素半衰期測定
研究性實驗
實驗36 覆蓋層下圖像的研究
實驗37 工業(yè)CT初探及圖象重建
實驗38 活性炭吸附測環(huán)境中的氡濃度
實驗39 增量法作單元素X射線熒光分析
實驗40 蒙特卡羅方法模擬γ射線穿過物質(zhì)時譜成分的變化
附錄
附錄A 元素周期表
附錄B 元素吸收限及特征X射線能量
附錄C 天平的使用
附錄D 長度的測量
附錄E 低功率高電壓的測量