粉末多晶X射線衍射技術(shù)原理及應(yīng)用

第1章 衍射計算中常用的晶體學(xué)表示方法
1.1 晶系
1.2 晶體的對稱性
1.3 點(diǎn)群(對稱類型)
1.4 布拉格點(diǎn)陣
1.5 空間群
第2章 X射線物理基礎(chǔ)
2.1 X射線的產(chǎn)生及性質(zhì)
2.2 X射線衍射原理
2.3 倒易矢量、倒易點(diǎn)陣及反射球
2.4 粉晶X射線衍射
第3章 X射線衍射方法
3.1 粉晶衍射儀法
3.2 其他X射線衍射儀
第4章 X射線衍射數(shù)據(jù)
4.1 衍射峰位的確定方法
4.2 衍射線峰形
4.3 X射線衍射強(qiáng)度
4.4 衍射線分離
第5章 計算機(jī)在多晶體衍射中的應(yīng)用
5.1 實(shí)驗(yàn)譜的基本處理
5.2 實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的分析與應(yīng)用
5.3 相關(guān)機(jī)構(gòu)、網(wǎng)站、數(shù)據(jù)庫
第6章 X射線物相分析
6.1 定性相分析
6.2 定量相分析
第7章 X射線的小角度散射
7.1 X射線小角度散射原理
7.2 X射線小角度散射實(shí)驗(yàn)
7.3 X射線小角度散射的應(yīng)用
第8章 晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測量
8.1 原理
8.2 德拜-謝樂法的系統(tǒng)誤差
8.3 衍射儀法的主要誤差
8.4 晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
8.5 非立方晶系晶體點(diǎn)陣常數(shù)的精確測定
8.6 應(yīng)用同步輻射源
第9章 材料結(jié)晶度的計算
9.1 無機(jī)礦物結(jié)晶度測定方法
9.2 聚合物材料結(jié)晶度
9.3 晶體粒度大小及比表面積的測定
第10章 宏觀應(yīng)力的測定
10.1 彈性應(yīng)力和應(yīng)變的關(guān)系
10.2 X射線測定表面應(yīng)力
10.3 應(yīng)用衍射儀測定應(yīng)力的方法
10.4 X射線應(yīng)力測量舉例及若干實(shí)際問題
第11章 X射線衍射結(jié)構(gòu)分析的Rietveld法
11.1 Rietveld法概述
11.2 Rietveld法的基本原理
11.3 Rietveld法修正晶體結(jié)構(gòu)策略
11.4 修正過程常出現(xiàn)的問題和對策
11.5 Rietveld法的應(yīng)用
第12章 X射線多晶體衍射的應(yīng)用實(shí)例
12.1 冶金和機(jī)械工業(yè)
12.2 地球和采礦工業(yè)
12.3 生物和醫(yī)藥工業(yè)
12.4 能源
12.5 陶瓷和建材工業(yè)
12.6 功能材料、玻璃
12.7 復(fù)合材料物相鑒定
12.8 粉末晶體結(jié)構(gòu)分析
12.9 晶粒度及晶格應(yīng)變的測定
參考文獻(xiàn)