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電子元器件失效分析及應(yīng)用

電子元器件失效分析及應(yīng)用

定　價(jià)：￥8.00

作　者： 夏泓主編
出版社： 國(guó)防工業(yè)出版社
叢編項(xiàng)： 可靠性·維修性·保障性叢書(shū) 第二批
標(biāo)　簽： 電子元器件
ISBN： 9787118018110 出版時(shí)間： 1998-02-01 包裝：
開(kāi)本： 20cm 頁(yè)數(shù)： 155頁(yè) 字?jǐn)?shù)：  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書(shū)闡述了電子元器件失效分析工作的發(fā)展、失效分析的作用；介紹了失效的概念、失效的分類、提出得到失效模式定量判斷的一些方法；在論述失效分析的思路和典型程序之后，介紹并評(píng)價(jià)了元器件失效分析的常用技術(shù)、可能的失效原因和機(jī)理的假設(shè)分析。本書(shū)可供研制電子設(shè)備的設(shè)計(jì)和管理元器件的人員、新型電子元器件的設(shè)計(jì)和管理人員學(xué)習(xí)。也可供失效分析專業(yè)人員參考。...

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