數(shù)理統(tǒng)計(jì)理論與方法在痕量分析中的應(yīng)用

定　價(jià)：￥15.00

作　者：	（羅馬尼亞）C·利特安努，（羅馬尼亞）I·里卡著；吳乾文等譯
出版社：	原子能出版社
叢編項(xiàng)：
標(biāo)　簽：	痕量分析

ISBN：	9787502200923	出版時(shí)間：	1990-01-01	包裝：
開本：	21cm	頁數(shù)：	475頁	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡(jiǎn)介

　　本書內(nèi)容：內(nèi)容分析測(cè)量數(shù)據(jù)處理中用的統(tǒng)計(jì)元、結(jié)果的信息處理、分析系統(tǒng)的穩(wěn)定性、信號(hào)與濃度的關(guān)系，分析信號(hào)檢測(cè)、化學(xué)分析的檢測(cè)限、痕量測(cè)定，提高分析化學(xué)中的信噪比等。